高低溫(wen)電子萬(wan)能(neng)試驗機溫(wen)度範(fan)圍(wei)80- -40度(du)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2024-09-09

訪問量：2027

廠商性質：生產(chan)廠家

生產(chan)地(di)址(zhi)：天津

簡要(yao)描(miao)述：

CMT-5105型微(wei)機控制(zhi)高低溫(wen)電子萬(wan)能(neng)試驗機
●高低溫(wen)電子萬(wan)能(neng)試驗機溫(wen)度範(fan)圍(wei)80- -40度(du)適(shi)用範(fan)圍(wei)
該(gai)機主要(yao)用(yong)於金屬(shu)及(ji)非(fei)金屬(shu)材料的拉伸(shen)、壓縮(suo)等(deng)力學性能(neng)測試和分析(xi)研究(jiu)。可(ke)自動求取(qu)ReH、ReL、Rp0.2、Fm、Rt0.5 、Rt0.6、Rt0.65、Rt0.7、Rm、E等(deng)試驗參(can)數(shu)，並(bing)可(ke)根(gen)據GB、ISO、DIN、ASTM、JIS等(deng)標(biao)準(zhun)進行(xing)試驗和提(ti)供(gong)數(shu)據(ju)。

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產品(pin)介(jie)紹

CMT-5105型微(wei)機控制(zhi)高低溫(wen)電子萬(wan)能(neng)試驗機

●高低溫(wen)電子萬(wan)能(neng)試驗機溫(wen)度範(fan)圍(wei)80- -40度(du)適(shi)用範圍(wei)

該(gai)機主要(yao)用(yong)於金屬(shu)及(ji)非(fei)金屬(shu)材料的拉伸(shen)、壓縮(suo)等(deng)力學性能(neng)測試和分析(xi)研究(jiu)。可(ke)自動求取(qu)ReH、ReL、Rp0.2、Fm、Rt0.5 、Rt0.6、Rt0.65、Rt0.7、Rm、E等(deng)試驗參(can)數(shu)，並(bing)可(ke)根(gen)據GB、ISO、DIN、ASTM、JIS等(deng)標(biao)準(zhun)進行(xing)試驗和提(ti)供(gong)數(shu)據(ju)。

●高低溫(wen)電子萬(wan)能(neng)試驗機溫(wen)度範(fan)圍(wei)80- -40度(du)性能(neng)特點(dian)

本(ben)產品(pin)采(cai)用高強(qiang)度光(guang)杠固(gu)定(ding)上橫梁(liang)和工作臺面，使(shi)之(zhi)構成(cheng)高剛性的門式框(kuang)架(jia)結構。采(cai)用進口(kou)壓縮(suo)機制(zhi)冷(leng)使(shi)溫(wen)度更(geng)準(zhun)確。采(cai)用伺服電機驅動(dong)，通(tong)過(guo)滾(gun)珠(zhu)絲杠傳動(dong)機構帶(dai)動(dong)移動(dong)橫梁(liang)上下(xia)移(yi)動(dong)，實現(xian)試驗加載(zai)過(guo)程(cheng)。分為(wei)單空間和雙(shuang)空間兩種機型。主本(ben)機采(cai)用優(you)良的TJMTS全(quan)數(shu)字(zi)閉環(huan)控(kong)制(zhi)系統(tong)進行(xing)控(kong)制(zhi)及(ji)測量(liang)，采(cai)用計(ji)算機進行(xing)試驗過(guo)程(cheng)及(ji)試驗曲(qu)線(xian)的動態(tai)顯(xian)示，並(bing)進行(xing)數(shu)據(ju)處理，試驗結束後可(ke)通(tong)過(guo)圖(tu)形(xing)處理模(mo)塊(kuai)對(dui)曲(qu)線(xian)放(fang)大進行(xing)數(shu)據(ju)再分析(xi)編輯(ji)。

●技術(shu)參(can)數(shu)

設(she)備(bei)名(ming)稱(cheng)		雙(shuang)柱(zhu)落(luo)地式電子萬(wan)能(neng)試驗機
設(she)備(bei)規格(ge)、型號(hao)		CMT系列
設(she)備(bei)規格(ge)、型號(hao)		CMT
Z大試驗力		5KN
精(jing)度等(deng)級(ji)		1級(ji)
載(zai)荷(he)參(can)數(shu)	試驗力測量(liang)範圍(wei)	0.4%～100%FS（滿(man)量(liang)程(cheng)）
	試驗力示值(zhi)誤差	示值(zhi)的±0.5%以內(nei)
	試驗力分辨率(lv)	大試驗力的±1/300000，全(quan)程(cheng)不分檔，且全(quan)程(cheng)分辨率(lv)不變
大變形(xing)參(can)數(shu)	大變形(xing)測量(liang)範圍(wei)	10～800mm(選配(pei))
	大變形(xing)示值(zhi)誤差	示值(zhi)的±1%以內(nei)
	大變形(xing)測量(liang)分辨力(li)	0.008mm
位移參(can)數(shu)	位移示值(zhi)誤差	示值(zhi)的±0.2%以內(nei)
位移參(can)數(shu)	位移分辨率(lv)	0.015μm
控(kong) 制(zhi) 參(can) 數(shu)	力(li)控速(su)率(lv)調節範(fan)圍(wei)	0.005～5%FS/s
	力(li)控速(su)率(lv)控制(zhi)精度(du)	速(su)率(lv)＜0.05%FS/s時(shi)，為(wei)設(she)定(ding)值(zhi)的±2%以內(nei)，速(su)率(lv)≥0.05%FS/s時(shi)，為(wei)設(she)定(ding)值(zhi)的±0.5%以內(nei)；
	變(bian)形速(su)率(lv)調節範(fan)圍(wei)	0.005～5%FS/s
	變(bian)形速(su)率(lv)控制(zhi)精度(du)	速(su)率(lv)＜0.05%FS/s時(shi)，為(wei)設(she)定(ding)值(zhi)的±2%以內(nei)，速(su)率(lv)≥0.05%FS/s時(shi)，為(wei)設(she)定(ding)值(zhi)的±0.5%以內(nei)；
	試臺速(su)率(lv)調節範(fan)圍(wei)	CMT:0.001~500 mm/min
	試臺速(su)率(lv)控制(zhi)精度(du)	為(wei)設定(ding)值(zhi)的±0.2%以內(nei)
	恒(heng)力(li)、恒(heng)變(bian)形、恒(heng)位移控(kong)制(zhi)範圍(wei)	0.5%～100%FS
	恒(heng)力(li)、恒(heng)變(bian)形、恒(heng)位移控(kong)制(zhi)精度(du)	設(she)定(ding)值(zhi)≥10%FS時(shi)，為(wei)設(she)定(ding)值(zhi)的±0.5%以內(nei)，設定(ding)值(zhi)＜10%FS時(shi)，為(wei)設(she)定(ding)值(zhi)的±1%以內(nei)
	溫(wen)度範(fan)圍(wei)	80- -40度(du)
主機參(can) 數(shu)	外(wai)形尺(chi)寸	8505501680mm
	有效拉(la)伸空間（含(han)拉伸(shen)夾具(ju)）	700mm
	有效壓縮(suo)空間（含(han)壓縮(suo)夾具(ju)）	850mm
	橫梁(liang)移動(dong)大距離(li)	1100mm
	有效試驗寬(kuan)度	450/550mm
	電(dian)源(yuan)	220V/50Hz，±10%
	功(gong)率(lv)	0.75KW
	整(zheng)機重量(liang)	520Kg